Dual Wavelength Measurement : 이중 파장 측정
듀얼 파장 측정은 비접촉식 온도 측정의 고급 기술로, 샌드위치 검출기를 사용하지 않는 비율 파이로메트리의 특수한 변형입니다. 이 방식은 파장 선택형 광학 소자(빔 스플리터)를 이용해 공간적으로 분리된 두 개의 색상 채널을 사용하며, 분리된 신호를 각각 독립적인 두 개의 검출기로 전달하는 것이 특징입니다.
이 기법에서는 방사 강도를 직접 평가하는 대신, 서로 다른 두 파장에서의 방사 강도 비율을 측정합니다. 이러한 접근 방식은 적외선 검출기와 분광 범위 선택에 있어 더 큰 유연성을 제공하여, 특정 응용 분야에 맞게 파이로미터를 최적화할 수 있게 합니다. 또한 부분적인 가림 현상이나 방사율 변화에 대한 허용성 등 비율 파이로메트리가 갖는 다른 장점들도 그대로 유지됩니다.
일반적으로 이 방법은 서로 간격이 더 넓게 떨어진 두 개의 분광 범위를 사용합니다. 분광 범위 간의 간격이 클수록, 두 분광 범위에서 방사율이 동일한 방식으로 변화한다는 가정이 성립할 가능성은 더 낮아집니다.
The dual wavelength measurement is an advanced non-contact temperature measurement technique and a special variant of ratio pyrometry that does not use sandwich detectors. It involves using two separate color channels, which are spatially separated using a wavelength-selective optical element (beam splitter), and then feeding them to two independent detectors.
In this technique, the ratio of radiation intensities at two distinct wavelengths is quantified, instead of directly evaluating radiation intensities. This approach allows for greater flexibility in the choice of infrared detectors and spectral ranges, enabling the adaptation of pyrometers to specific applications. Additionally, the other advantages of ratio pyrometry, such as tolerance of partial obscuration and variations of the emissivity, should be retained.
Typically, this method is used with two spectral ranges that are further apart from each other. The further apart the spectral ranges are, the less likely the assumption that the emissivity changes in the same way for both spectral ranges becomes.