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전자 산업에서의 온도 측정

Optris PI 640i 적외선 카메라용 신규 현미경 렌즈 옵션 출시

2024년 1월 24일

전자 부품은 점점 더 작은 구조로 설계되고 있으며, 매우 컴팩트한 형태를 가지고 있습니다. Optris는 이제 PI 640i 적외선 카메라용 새로운 현미경 렌즈(Microscope Optics)를 출시하여, 칩 수준의 구조에서도 정확하고 높은 기하학적 해상도의 온도 측정이 가능하도록 했습니다.

고온은 전자 부품과 조립체의 수명에 부정적인 영향을 미칩니다. 이는 많은 반도체 소재가 높은 온도에서 가속화된 노화를 겪기 때문입니다. 예를 들어, 접촉 저항 증가로 인한 불량 전기 연결이 문제가 될 수 있습니다. 또한, 프로세서와 같은 복잡한 반도체 부품 내부에서도 온도가 상승할 수 있습니다.

마이크로미터 수준의 해상도를 갖춘 온도 측정

새로운 MO2X 현미경 렌즈(2배 배율)를 장착하면, PI 640i 적외선 카메라는 복잡한 구조의 적외선 이미지도 정확하게 촬영할 수 있습니다.

정확한 온도 측정을 위해서는 4×4 픽셀(MFOV)이 필요하며, 이를 통해 최소 34 µm 크기의 대상도 측정할 수 있습니다. 즉, 칩 수준의 아주 작은 구조 까지 분석이 가능합니다. 이 렌즈의 열 분해능(thermal resolution) 80 mK은 매우 우수한 성능을 제공합니다.

또한 새로운 렌즈는 대상 물체로부터 15 mm 거리에서도 초점을 맞출 수 있어, 작업이 매우 편리합니다.

PI 시리즈 적외선 카메라는 렌즈 교환이 용이하여, 다양한 측정 과제에 유연하게 대응할 수 있습니다.

함께 제공되는 고품질 현미경 스탠드와 미세 조정 장치를 이용하면, 마이크로 전자 조립체의 검사가 매우 간편합니다.

적외선 카메라의 최대 해상도는 640 × 480 픽셀이며, 프레임 속도는 32 Hz입니다. 프레임 속도를 125 Hz로 설정하더라도, PI 640i는 여전히 640 × 120 픽셀의 측정 능력으로 우수한 성능을 보여줍니다.